Showing results 1 to 16 of 16
Issue Date | Title | Author(s) |
---|---|---|
2013-11-29 | Analytic representation of the dielectric functions of InAsxSb1-x alloys in the parametric model | Hwang, S. Y.; Kim, T. J.; Byun, J. S.; Barange, N. S.; Diware, M. S.; Kim, Y. D.; Aspnes, D. E.; Yoon, J. J.; Song, J. D. |
2008-05-07 | Characteristics of hydrogen co-doped ZnO: Al thin films | Lee, S. H.; Lee, T. S.; Lee, K. S.; Cheong, B.; Kim, Y. D.; Kim, W. M. |
2014-02-25 | Dielectric function and critical points of AlP determined by spectroscopic ellipsometry | Hwang, S. Y.; Kim, T. J.; Jung, Y. W.; Barange, N. S.; Park, H. G.; Kim, J. Y.; Kang, Y. R.; Kim, Y. D.; Shin, S. H.; Song, J. D.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C. |
2010-09-13 | Dielectric functions and interband transitions of In1-xAlxSb alloys | Yoon, J. J.; Kim, T. J.; Jung, Y. W.; Aspnes, D. E.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Shin, S. H.; Song, J. D. |
2014-09 | Dielectric functions and interband transitions of InxAl1 (-) P-x alloys | Kim, T. J.; Hwang, S. Y.; Byun, J. S.; Aspnes, D. E.; Lee, E. H.; Song, J. D.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C.; Park, H. G.; Choi, J.; Kim, J. Y.; Kang, Y. R.; Park, J. C.; Kim, Y. D. |
2011-09-01 | Dielectric response of AlP by in-situ ellipsometry | Jung, Y. W.; Byun, J. S.; Hwang, S. Y.; Kim, Y. D.; Shin, S. H.; Song, J. D. |
2009-06-08 | Dielectric response of AlSb from 0.7 to 5.0 eV determined by in situ ellipsometry | Jung, Y. W.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Shin, S. H.; Song, J. D. |
2009-10 | Effect of heat treatment of sputter deposited ZnO films co-doped with H and Al | Lee, S. H.; Lee, T. S.; Lee, K. S.; Cheong, B.; Kim, Y. D.; Kim, W. M. |
2009-05-01 | Ellipsometric analysis of porous anodized aluminum oxide films | Jung, Y. W.; Byun, J. S.; Woo, D. H.; Kim, Y. D. |
2013-04-21 | Formation of self-assembled large droplet-epitaxial GaAs islands for the application to reduced reflection | Lee, E. H.; Song, J. D.; Yoon, J. J.; Bae, M. H.; Han, I. K.; Choi, W. J.; Chang, S. K.; Kim, Y. D.; Kim, J. S. |
2018-11 | Growth of pure wurtzite InGaAs nanowires for photovoltaic and energy harvesting applications | Kang, H. -K.; Kim, J. Y.; Noh, M. -S.; Kang, C. -Y.; Kim, Y. D.; Cho, M. -H.; Song, J. D. |
2013-03-11 | Interband transitions and dielectric functions of InGaSb alloys | Kim, T. J.; Yoon, J. J.; Byun, J. S.; Hwang, S. Y.; Aspnes, D. E.; Shin, S. H.; Song, J. D.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C.; Barange, N. S.; Kim, J. Y.; Kim, Y. D. |
2009-09-14 | Interband transitions of InAsxSb1-x alloy films | Kim, T. J.; Yoon, J. J.; Hwang, S. Y.; Aspnes, D. E.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D. |
2009-11-30 | Observation of new critical point in InxAl1-xAs alloy using spectroscopic ellipsometry | Yoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kang, Y. J.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D. |
2013-07-01 | Optical properties of AlAsxSb1-x alloys determined by in situ ellipsometry | Kim, J. Y.; Yoon, J. J.; Kim, T. J.; Kim, Y. D.; Lee, E. H.; Bae, M. H.; Song, J. D.; Choi, W. J.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C. |
2008-04-14 | Optical properties of InxAl1-xAs alloy films | Yoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Aspnes, D. E.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D. |