선택영역성장 기술을 이용한 전광 논리소자용 광소자의 제작 및 측정

Other Titles
Fabrication and Measurement of All-Optical Logic Device by Using Selective Area Growth Technology
Authors
손창완윤태훈이석Yoshiaki Nakano
Issue Date
2007-02
Publisher
한국광학회
Citation
한국광학회지, v.18, no.1, pp.50 - 55
Abstract
본 연구에서는 광통신 시스템에 있어서 필수적인 기능으로 전망되고 있는 전광 논리소자를 구현하기 위한 집적된 광소자를 제작, 측정 하였다.유기금속화학증착법(MOCVD)을 이용한 선택영역 성장기술을 이용하여 서로 다른 두 활성영역을 한 기판위에 성장함으 로써 능동 반도체 광소자인 반도체 광증폭기와 수동 반도체 광소자인 다중모드 간섭 도파로, S-자 도파로를 집적하였다. 집적된 수동 소자부분의 손실을 측정하고 전광 논리소자를 구현하는 방법 중 하나인 반도체 광증폭기의 cross-gain modulation(XGM)특성을 측정 하여 집적된 전광 논리소자로의 사용 가능성을 알아보았다.
Keywords
Integrated optics devices; Semiconductor optical amplifier; Optical ogic; Integrated optics devices; Semiconductor optical amplifier; Optical logic; Integrated optics devices; Semiconductor optical amplifier; Optical ogic
ISSN
1225-6285
URI
https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/134676
Appears in Collections:
KIST Article > 2007
Files in This Item:
There are no files associated with this item.
Export
RIS (EndNote)
XLS (Excel)
XML

qrcode

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

BROWSE