선택영역성장 기술을 이용한 전광 논리소자용 광소자의 제작 및 측정
- Other Titles
- Fabrication and Measurement of All-Optical Logic Device by Using Selective Area Growth Technology
- Authors
- 손창완; 윤태훈; 이석; Yoshiaki Nakano
- Issue Date
- 2007-02
- Publisher
- 한국광학회
- Citation
- 한국광학회지, v.18, no.1, pp.50 - 55
- Abstract
- 본 연구에서는 광통신 시스템에 있어서 필수적인 기능으로 전망되고 있는 전광 논리소자를 구현하기 위한 집적된 광소자를 제작,
측정 하였다.유기금속화학증착법(MOCVD)을 이용한 선택영역 성장기술을 이용하여 서로 다른 두 활성영역을 한 기판위에 성장함으
로써 능동 반도체 광소자인 반도체 광증폭기와 수동 반도체 광소자인 다중모드 간섭 도파로, S-자 도파로를 집적하였다. 집적된 수동
소자부분의 손실을 측정하고 전광 논리소자를 구현하는 방법 중 하나인 반도체 광증폭기의 cross-gain modulation(XGM)특성을 측정
하여 집적된 전광 논리소자로의 사용 가능성을 알아보았다.
- Keywords
- Integrated optics devices; Semiconductor optical amplifier; Optical ogic; Integrated optics devices; Semiconductor optical amplifier; Optical logic; Integrated optics devices; Semiconductor optical amplifier; Optical ogic
- ISSN
- 1225-6285
- URI
- https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/134676
- Appears in Collections:
- KIST Article > 2007
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