Challenges for various applications of atomic-scale insights by atom probe tomography

Authors
LEE, JI YEONGYu, Byung-YongAhn, Jae Pyoung
Issue Date
2023-11-22
Publisher
한국표면분석학회
Citation
2023년도 한국표면분석학회 제2회 종합학술대회
Abstract
원자 수준의 공간분해능과 수십 ppm 수준의 분석효율을 가지고 있는 Atom probe tomography (APT) 분석은 다양한 에너지소재와 첨단 반도체, 열전소재, 철강, 알루미늄합금, 디스플레이 등 다양한 분야에 응용되어 효율을 향상시키는데 기여하고 있습니다. 특히 3차원적으로 수소와 리튬을 포함한 모든 원소의 정량분석을 수행함으로써 재료 내부의 성능 저하 원인 분석이 가능하게 되었습니다. 본 연구에서는 그림 1(좌과 같이 이차전지인 NCM(111)에서의 사이클수명에 따른 표면조성변화가 수명 저하에 미치는 영향을 분석하였고, 그림 1(우)에서는 SiO에 Li/Si 비율에 따라서 Si 결정립이 조대화되는 것을 APT로 분석함으로써 초기 효율을 향상키켰으며, 그림 2와 같이 열전소재 (SnSe)에 APT 분석을 수행함으로써 입계에 존재하는 산소를 검증하고, 정제법을 개발함으로써 열전성능을 향상시키는 연구를 수행하였습니다.
URI
https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/149329
Appears in Collections:
KIST Conference Paper > 2023
Files in This Item:
There are no files associated with this item.
Export
RIS (EndNote)
XLS (Excel)
XML

qrcode

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

BROWSE