KIST Library Institutional Repository

개방단말 동축선 프로브를 사용하여 측정된 매질 전기적 특성의 정확도 평가 및 개선 방법

Author

김세윤; 정지현; 조재형

Assignee

한국과학기술연구원

Regitration Date

2019-05-28

Registration No.

10-1985459

Application Date

2017-09-27

Application No.

2017-0125306

Country

KO

URI

https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/94842

Appears in Collections:

KIST Patent > 2017

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