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Browsing byAuthor이유종

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1992-01PECVD 방법에 의해 제작된 SiNx/InP MIS 구조의 bias stress 에 의한 C-V 및 G-V 곡선의 변화 .강광남; 이정일; 이명복; 한일기; 이유종
1997-08-28다층　마스크패턴의　결함　수정방법김회종; 강광남; 이정일; 우덕하; 이석; 이유종; 이명복; 우덕하
1997-12-11전자빔　리소그래피　장치　및　이를　이용한　다층　정렬　방법김회종; 강광남; 이정일; 이명복; 최원준; 이유종; 한일기
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