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Issue DateTitleAuthor(s)
2007-03Reliable design and electrical characteristics of vertical MEMS probe tip이승훈; 추성일; 김진혁; 한동철; 문성욱
2008-08-08반도체 검사용 수직형 프로브 및 이 프로브를 구비한 프로브 카드 및 그 제조방법문성욱; 이승훈; 추성일; 김진혁
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