KIST Library Institutional Repository

반도체 검사용 수직형 프로브 및 이 프로브를 구비한 프로브 카드 및 그 제조방법

Author

문성욱; 이승훈; 추성일; 김진혁

Assignee

한국과학기술연구원

Regitration Date

2008-08-08

Registration No.

10-0852514

Application Date

2006-07-31

Application No.

2006-72402

Country

KO

URI

https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/90248

Appears in Collections:

KIST Patent > 2006

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