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Issue Date | Title | Author(s) |
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2007-03 | Reliable design and electrical characteristics of vertical MEMS probe tip | 이승훈; 추성일; 김진혁; 한동철; 문성욱 |
2008-08-08 | 반도체 검사용 수직형 프로브 및 이 프로브를 구비한 프로브 카드 및 그 제조방법 | 문성욱; 이승훈; 추성일; 김진혁 |
2010-08-30 | 프로브 구조물 및 그 제조방법 | 문성욱; 추성일; 이승훈 |