1.31 μm 파장에서 GaAs/AlGaAs ridge 도파로 위상변조기의 편광 의존성

Other Titles
Polarization Dependence of a GaAs/AlGaAs Ridge Waveguide Phase Modulator at 1.31 μm
Authors
변영태전영민김선호
Issue Date
2003-10
Publisher
한국물리학회
Citation
새물리, v.47, no.4, pp.253 - 259
Abstract
단일모드 GaAs/AlGaAs ridge 도파로 위상변조기가 2차원 유한요소방법(2D-FEM)을 이용하여 설계되었으며, MOCVD(metal organic chemical vapor deposition) 성장기법과 화학적인 습식식각 방법을 이용하여 제작되었다. P-p-n-N 이중의 이종접합(double heterostructure) 위상변조기의 위상변조 특성은 역 바이어스 전압을 변화시키면서 Mach-Zehnder 간섭 방법을 이용하여 1.31 $\mu$m 파장에서 측정되었다. TE와 TM 편광에서 측정된 위상변조 효율은 각각 54.9$^\circ$/V$\cdot$mm와 39.4$^\circ$/V$\cdot$mm로 높게 얻어졌다. TE$_0$와 TM$_0$ 모드 사이의 측정된 위상 변화 차로부터 LEO 효과의 전기광학 계수($\gamma_{41}$)가 1.45 $\times$ 10$^{-10}$ cm/V로 얻어졌다.
Keywords
반도체 광위상 변조기; 위상변조 효율; 전기광학 곁수; Mach-Zehnder 간섭계; emiconductor optical phase modulator; Phase modulation efficiency; Linear electooptic coefficient; Mach-Zehnder interferometer
ISSN
0374-4914
URI
https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/138185
Appears in Collections:
KIST Article > 2003
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