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투과형 엑스선 회절 분석시스템용 시료 지지장치 및 이를 이용한 투과형 엑스선 회절 분석시스템

Author

정경윤; 김동현; 디키 수산토; 노재교; 조병원; 박재호; 정훈기; 장원영; 김수진

Assignee

한국과학기술연구원

Regitration Date

2017-10-27

Registration No.

10-1793250

Application Date

2016-04-05

Application No.

2016-0041693

Country

KO

URI

https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/89128

Appears in Collections:

KIST Patent > 2016

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